Взрывы электронных устройств в Ливане едва ли связаны с взрывом на Арбате телефона в руках москвича, заявил заведующий лабораторией доверенного искусственного интеллекта РТУ МИРЭА Юрий Силаев, 19 сентября сообщает RT.
Комментируя взрыв смартфона на Арбате в момент второй волны террористических взрывов в Ливане, Силаев сказал: «Наиболее вероятным, и, скорее всего, эксперты правоохранительных органов это подтвердят, причиной взрыва стал перегрев аккумулятора».
По его словам, взрывы аккумуляторов телефонов периодически происходят из-за перегрева и нередко бывают связаны с постоянным использованием функции быстрой зарядки.
Он также отметил, что перегрев аккумулятора смартфона могут вызвать некачественные зарядные устройства и кабели, повреждение устройства или даже его пребывание на горячей поверхности.
Читайте также: Новая волна взрывов в Ливане затронула телефоны и другие устройства
125745